Nghiên cứu ứng dụng máy đo tọa độ CMM CWB 450 để số hóa bề mặt và phục hồi chi tiết CT1 theo công nghệ thiết kế ngược

ĐTTS ghi: Bộ Công thương. Trường Đại học Kinh tế - Kỹ thuật Công nghiệp

Lưu vào:
Hiển thị chi tiết
Tác giả chính: Nguyễn, Văn Tân
Đồng tác giả: Đặng, Văn Hòa
Định dạng: Khóa luận tốt nghiệp
Ngôn ngữ:Vietnamese
Thông tin xuất bản: 2024
Chủ đề:
Truy cập trực tuyến:https://dlib.uneti.edu.vn/handle/UNETI/750
Từ khóa: Thêm từ khóa bạn đọc
Không có từ khóa, Hãy là người đầu tiên gắn từ khóa cho biểu ghi này!