Logic-timing simulation and the degradation delay model / Manuel J. Bellido, Jorge Juan, Manuel Valencia

Contents: Fundamentals of Timing Simulation Delay Models: Evolution and Trends Degradation and Inertial Effects CMOS Inverter Degradation Delay Model Gate-Level DDM Logic Level Simulator Design and Implementation DDM Simulation Results Accurate Measurement of the Switching Activity

Lưu vào:
Hiển thị chi tiết
Tác giả chính: Bellido, Manuel J.
Định dạng: text
Ngôn ngữ:vie
Thông tin xuất bản: Imperial College Press,
Chủ đề:
Truy cập trực tuyến:http://lib.tgu.edu.vn//Opac/DmdInfo.aspx?dmd_id=22445
Từ khóa: Thêm từ khóa bạn đọc
Không có từ khóa, Hãy là người đầu tiên gắn từ khóa cho biểu ghi này!