Nghiên cứu cấu tạo bề mặt TiO2 bằng phương pháp phiếm hàm mật độ dựa trên liên kết mạnh
Lưu vào:
Tác giả chính: | Nguyễn, Vy Khương |
---|---|
Đồng tác giả: | Huỳnh, Anh Huy;Trường Đại học Cần Thơ |
Thông tin xuất bản: |
Trường Đại học Cần Thơ
|
Chủ đề: | |
Truy cập trực tuyến: | https://lrcopac.ctu.edu.vn/pages/opac/wpid-detailbib-id-193106.html |
Từ khóa: |
Thêm từ khóa bạn đọc
Không có từ khóa, Hãy là người đầu tiên gắn từ khóa cho biểu ghi này!
|
Tài liệu tương tự
-
Nghiên cứu cấu tạo dây Nanô TiO2 bằng phương pháp phiếm hàm mật độ dựa trên liên kết mạnh
Thông tin tác giả:: Huỳnh, Thế Anh -
Nghiên cứu cấu tạo bề mặt ZnO bằng phương pháp phiếm hàm mật độ dựa trên liên kết mạnh
Thông tin tác giả:: Bùi, Thị Nguyệt Thu -
Khảo sát cơ chế hấp thụ bề mặt ZnO bằng phương pháp phiếm hàm mật độ dựa trên liên kết mạnh :
Thông tin tác giả:: Nguyễn, Thị Hồng Loan -
Nghiên cứu sự sai hỏng của tinh thể Silicene bằng phương pháp phiếm hàm mật độ liên kết mạnh
Thông tin tác giả:: Nguyễn, Thị Thùy Dương -
Nghiên cứu tính chất điện tử của cấu trúc siêu mạng dựa trên dãy dị chất ZnO/GaN kiểu Armchair bằng phương pháp phiếm hàm mật độ
Thông tin tác giả:: Huỳnh, Thị Mỹ Duyên