Accuracy and application of quantitative X-ray diffraction on the precipitation of struvite product /Xingwen Lu a, b , Kaimin Shih b , Xiao-yan Li b , Guoqiang Liu c , Eddy Y. Zeng c , Fei Wang

Lưu vào:
Hiển thị chi tiết
Tác giả chính: Lu,Xingwen
Định dạng: text
Ngôn ngữ:vie
Chủ đề:
Truy cập trực tuyến:https://thuvien.huce.edu.vn/Opac/DmdInfo.aspx?dmd_id=16585
Từ khóa: Thêm từ khóa bạn đọc
Không có từ khóa, Hãy là người đầu tiên gắn từ khóa cho biểu ghi này!